Mẹo Hướng dẫn Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ 2022

Quý khách đang tìm kiếm từ khóa Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ được Update vào lúc : 2022-09-19 14:29:20 . Với phương châm chia sẻ Bí quyết Hướng dẫn trong nội dung bài viết một cách Chi Tiết 2022. Nếu sau khi tìm hiểu thêm Post vẫn ko hiểu thì hoàn toàn có thể lại phản hồi ở cuối bài để Admin lý giải và hướng dẫn lại nha.

Đáp án A

Nội dung chính

    CÂU HỎI HOT CÙNG CHỦ ĐỀMục lụcLịch sửSửa đổiNhiễu xạ điện tử lựa chọn vùngSửa đổiNhiễu xạ chùm điện tử hội tụSửa đổiNhiễu xạ điện tử nguồn tích điện thấpSửa đổiNhiễu xạ điện tử nguồn tích điện caoSửa đổiXem thêmSửa đổiTham khảoSửa đổiLiên kết ngoàiSửa đổiVideo liên quan

Bước sóng lag quãng đường mà sóng truyền được trong một chu kì hoặc là khoảng chừng cách giữa 2 điểm sớm nhất cùng pha trên một phương truyền sóng

CÂU HỎI HOT CÙNG CHỦ ĐỀ

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. là sóng siêu âm

B. là sóng dọc

C. có tính chất hạt

D. có tính chất sóng

Các vướng mắc tương tự

Cho những hiện tượng kỳ lạ: tán sắc ánh sáng, quang điện, khúc xạ ánh sáng, quang dẫn, giao thoa ánh sáng, nhiễu xạ ánh sáng. Có mấy hiện tượng kỳ lạ thể hiện tính chất sóng của ánh sáng

A. 3

B. 2

C. 5

D. 4

Hiện tượng nào sau này chứng tỏ ánh sáng có tính chất sóng?

A. Hiện tượng quang – phát quang.

B. Hiện tượng quang điện ngoài.

C. Hiện tượng quang điện trong.

D. Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng.

Hiện tượng nào sau này chứng tỏ ánh sáng có tính chất sóng?

A. Hiện tượng quang – phát quang

B. Hiện tượng quang điện ngoài

C. Hiện tượng quang điện trong.

D. Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. là sóng siêu âm

B. Siêu âm có tần số to nhiều hơn 20 kHz

C. có tính chất hạt

D. có tính chất sóng

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. là sóng siêu âm

B. là sóng dọc

C. có tính chất hạt

D. có tính chất sóng

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. là sóng siêu âm

B. là sóng dọc

C. có tính chất hạt

D. có tính chất sóng

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. Là sóng siêu âm

B. Là sóng dọc

C. Có tính chất hạt

D. Có tính chất sóng

Hiện tượng giao thoa ánh sáng là dẫn xác nhận nghiệm chứng tỏ ánh sáng

A. Là sóng siêu âm

B. Là sóng dọc

C. Có tính chất hạt

D. Có tính chất sóng

Hiện tượng nhiễu xạ ánh sáng chứng tỏ ánh sáng

A. có tính chất sóng

B. là sóng siêu âm

C. là sóng dọc

D. có tính chất hạt

Nhiễu xạ điện tử là hiện tượng kỳ lạ sóng điện tử nhiễu xạ trên những mạng tinh thể chất rắn, thường được sử dụng để nghiên cứu và phân tích cấu trúc chất rắn bằng phương pháp dùng một chùm điện tử có động năng cao chiếu trực diện qua mạng tinh thể chất rắn, từ đó phân tích những vân giao thoa để xác lập cấu trúc vật rắn.

Tinh thể chất rắn có tính chất tuần hoàn, vì thế nó góp phần vai trò như những phương pháp tử nhiễu xạ. Nếu như những mặt tinh thể có tầm khoảng chừng cách liên tục là d thì góc nhiễu xạ sẽ cho cực lớn nhiễu xạ tuân theo công thức Bragg:

2
d
s
i
n
θ
=
n
λ
displaystyle 2dsintheta =nlambda

Phổ nhiễu xạ điện tử lựa chọn vùng trên mẫu tinh thể nano FeSiBNbCu

Nhiễu xạ điện tử bắt nguồn từ thời điểm năm 1926 với lý thuyết sóng của Louis de Broglie, và ba năm tiếp Từ đó hai thí nghiệm độc lập về nhiễu xạ điện tử được tiến hành đồng thời xác lập lý thuyết này: George Paget Thomson (Đại học Anberdeen tại Scotland) phát hiện những vân giao thoa của chùm điện tử khi chiếu trực diện qua màng mỏng dính sắt kẽm kim loại và Clinton Josseph Davisson và Lester Halbert Germer (Phòng Thí nghiệm Bell tại Mỹ) phát hiện hiện tượng kỳ lạ nhiễu xạ điện tử trên những tinh thể niken. Davisson và Thomson đều cùng nhận giải Nobel năm 1937 cho phát hiện này.

Nhiễu xạ điện tử lựa chọn vùngSửa đổi

Nhiễu xạ điện tử lựa chọn vùng (Selected area diffraction – SAED) là một phương pháp nhiễu xạ sử dụng trong kính hiển vi điện tử truyền qua, sử dụng một chùm điện tử tuy nhiên tuy nhiên chiếu trực diện qua một vùng chất rắn được lựa chọn. Phổ nhiễu xạ sẽ là tập hợp những điểm sáng phân loại trên những vòng tròn đồng tâm quanh tâm là vân nhiễu xạ bậc 0 tạo trên mặt phẳng tiêu của vật kính (hình vẽ). Gọi là nhiễu xạ lựa chọn vùng bởi người tiêu dùng hoàn toàn có thể thuận tiện và đơn thuần và giản dị lựa chọn một vùng trên mẫu và chiếu chùm điện tử đi xuyên qua nhờ khẩu độ lựa chọn vùng (selected area aperture).

Phương pháp này rất dễ dàng thực thi trong kính hiển vi điện tử, nhưng nó có một nhược điểm là thực thi trên một vùng diện tích s quy hoạnh khá rộng (vì để thực thi trên một vùng hẹp thì khó tạo chùm điện tử tuy nhiên tuy nhiên) vì thế nếu muốn phân tích cấu trúc từng hạt tinh thể nhỏ thì khó thực thi.

Với phổ SAED, ta hoàn toàn có thể chỉ ra tính chất của mẫu dựa theo đặc trưng của phổ:

    Nếu phổ là tập hợp những điểm sáng sắc nét thì mẫu là đơn tinh thể (trong vùng lựa chọn)
    Nếu phổ là những đường tròn liên tục thì mẫu là đa tinh thể, sự tăng kích thước hạt dẫn đến việc sắc nét của phổ.
    Nếu phổ là những đường tròn nhòe, cường độ yếu thì mẫu là vô định hình

Nhiễu xạ chùm điện tử hội tụSửa đổi

Phương pháp nhiễu xạ chùm điện tử quy tụ và phổ CBED của mẫu đơn tinh thể Si

Nhiễu xạ chùm điện tử quy tụ (Convergent beam electron diffraction – CBED) là phương pháp nhiễu xạ điện tử bằng phương pháp quy tụ một chùm điện tử hẹp chiếu trực diện qua mẫu cần phân tích, lần thứ nhất được thực thi bởi Kossel và Mollenstedt vào năm 1939.

Với phương pháp này, chùm điện tử được quy tụ thành một điểm rất hẹp và hoàn toàn có thể phân tích một diện tích s quy hoạnh rất nhỏ hoàn toàn có thể tới cỡ vài chục angstrom, hoặc vài angstrom. Vì những chùm tia được quy tụ nên sẽ có được nhiều chùm tia tán xạ theo những phương rất khác nhau. Phương pháp CBED rất mạnh cho việc phân tích tính đối xứng tinh thể, khuynh hướng tinh thể của chất rắn, xác lập nhóm không khí, thành phần pha, và độ dày mẫu… Đồng thời CBED cũng rất mạnh cho việc phân tích tính hoàn hảo nhất của tinh thể. Tuy nhiên, CBED khó thực thi hơn nhiều so với SAED. Phương pháp CBED thường chỉ có trong những kính hiển vi điện tử truyền qua quét (Scanning TEM – STEM), tức là dùng chùm điện tử quy tụ (hẹp) chiếu xuyên và quét qua mẫu.

Nhiễu xạ điện tử nguồn tích điện thấpSửa đổi

Nhiễu xạ điện tử nguồn tích điện thấp (Low energy electron diffraction – LEED) là phương pháp nhiễu xạ điện tử sử dụng những chùm điện tử có nguồn tích điện thấp (từ 10 đến 600 V), chiếu tán xạ trên mặt phẳng mẫu, thường dùng để phân tích những tính chất mặt phẳng của chất rắn. Phương pháp này được thực thi lần thứ nhất vào năm 1929 bởi Davisson và Germer trên những đơn tinh thể Si.

Chùm điện tử được chiếu tán xạ trên mặt phẳng mẫu, do có nguồn tích điện thấp nên chỉ có thể tương tác với một lớp mỏng dính tại mặt phẳng của mẫu, phổ nhiễu xạ được quan sát trên màn hình hiển thị huỳnh quang đặt phía sau và phổ cũng là những đường tròn đồng tâm.

Nhiễu xạ điện tử nguồn tích điện caoSửa đổi

Sơ đồ sắp xếp phương pháp nhiễu xạ điện tử nguồn tích điện cao

Nhiễu xạ điện tử nguồn tích điện cao (High energy electron diffraction – HEED) là phương pháp nhiễu xạ điện tử sử dụng chùm điện tử có nguồn tích điện từ 5 kV đến 100 kV, chiếu tán xạ trên mặt phẳng (sắp xếp in như phương pháp LEED) và phổ nhiễu xạ hiển thị trên màn hình hiển thị huỳnh quang đặt phía sau (hình vẽ). Đồng thời, góc chiếu chùm tia cũng rất nhỏ, chỉ cỡ vài độ (5°). Phương pháp này rất nhạy với những tính chất tinh thể học ở mặt phẳng mẫu. Phổ nhiễu xạ thu được là những vân giao thoa dạng đường thẳng trên màn.

HEED và LEED thường dùng để quan sát động học tinh thể trong những thiết bị như epitaxy chùm phân tử (Molecular beam epitaxy – MBE), những thiết bị tạo màng…

Xem thêmSửa đổi

    Nhiễu xạ
    Kính hiển vi điện tử truyền qua
    Kính hiển vi điện tử quét

Wikibooks có thông tin Anh ngữ về:

Nanowiki

Tham khảoSửa đổi

^ Williams D.B., Carter C.B (1996). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science. Kluwer Academic / Plenum Publishers. ISBN 0-306-45324-X.
^ De Graef M. (2003). Introduction to Conventional Transmission Electron Microscopy. Cambridge University Press. ISBN 0-521-62995.

Liên kết ngoàiSửa đổi

    Electron diffraction (with Java). Lưu trữ 2009-04-18 tại Wayback Machine

Tải thêm tài liệu liên quan đến nội dung bài viết Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ

Reply
1
0
Chia sẻ

4403

Clip Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ ?

Bạn vừa Read Post Với Một số hướng dẫn một cách rõ ràng hơn về Clip Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ tiên tiến và phát triển nhất

Share Link Down Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ miễn phí

Quý khách đang tìm một số trong những Share Link Cập nhật Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ Free.

Hỏi đáp vướng mắc về Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ

Nếu sau khi đọc nội dung bài viết Hiện tượng nhiễu xạ trên mạng tinh thể là dẫn chứng chứng tỏ vẫn chưa hiểu thì hoàn toàn có thể lại Comment ở cuối bài để Mình lý giải và hướng dẫn lại nha
#Hiện #tượng #nhiễu #xạ #trên #mạng #tinh #thể #là #bằng #chứng #chứng #tỏ